Nanotexnologiyada o'lchov usullari turli xil bo'lib, ular nanosituatsiyalarning aniq va ishonchli baholanishini ta'minlaydi. Atom-kuch mikroskopiyasi (AFM) moddalar yuzasini nanosathda o'rganish imkonini beradi. Skanningli tunel mikroskopiyasi (STM) atomlarni individual ravishda ko'rish uchun ishlatiladi. Skanerlash elektron mikroskopiyasi (SEM) va uzatiluvchi elektron mikroskopiya (TEM) texnologiyalari nanotasvirlarni yuqori rezolyutsiyada oladi. Dinamik yorug'lik sochilishi (DLS) usuli nanozarrachalarning o'lchamini o'lchashda qo'llanadi. Nano-optik o'lchovlar lazer interferometriyasi yordamida amalga oshiriladi, bu nanometr darajasida aniqlik ta'minlaydi. Bu usullar nanotexnologiyalarda, masalan, materiallar muhandisligi va biotexnologiyalarda muhim rol o'ynaydi